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塑料
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    西科拉ؓCHINAPLAS带来两种处子d装置——CENTERWAVE 6000 U上材试技术装|和用于查粒料、碎片和条带/薄膜的PURITY CONCEPTpȝ?

采用Sikora技术保障管材品?


    CENTERWAVE 6000ZH破性的毫米波技术，用于在挤E中量120-1,000毫米大型塑料材的直径、椭圆度和壁厚。还可以量多层材的层厚度?br /> 此系l在材圆周上的几个点处q行量Q不需要Q何耦合介质Q而且不受材料和测量目标温度的影响。不需要进行校准?br />     此外Q西U拉PURITY CONCEPTpȝ亦首度亮怸该装置采用模组式设计，可用于线上和ȝ查、分析粒料、碎片和条带/薄膜。系l采用X线、红外或光学技术，适用于各U场合?br />     公司另一个亮Ҏ(gu)PURITY SCANNERQ用于线上检查和分选塑料材料。系l将X线技术与光学量pȝl合CP探测塑料_料表面和内?0Km以上的污染物。含有污染物的粒子在q入下一工序之前被自动拣出?br />     西科拉提供多U测量装|，在胶和材行业用于保证品质Q如X线试pȝX-RAY 6000?

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