中科院“双增益阿达玛弱光光谱分析A的研制”通过验收
2016-5-13 来源:中国聚合物网 点击?/span>
关键词：(x)弱光 光谱分析 高分?/a>
q日Q中国科学院条g保障与胦(ch)务局l织专家对中U院长春光机所应用光学国家重点实验室吴一辉研I员承担的“双增益阿达玛弱光光谱分析A的研制”项目进行了(jin)现场技术测试和验收?/span>
目l针对传l光栅光׃?ni)A普遍存在高分辨率和高光通量间的矛盾Q提Zl阿辄变换阵列狭缝和光谱反演方法，实现?jin)分辨率和灵敏度双增益；提出反卷U、分D光谱定标等高精度光p码技术等Q研制出宽光p围、高分L率、高光通量、高信噪比阿辄光谱仪和h扚w化制作工艺技术的狭~阵列芯片。该双增益阿辄弱光光谱分析仪，相对孔径f/5.6Q像元光谱分辨率0.036nmQL长准度K?.10nmQL镉K复?.05nm。相比国外同cMA器，如HORIBA公司、Princeton仪器{，国内北京卓立汉光Q天z港东等Q该讑֤的信噪比、L长准度、光谱重复性几个性能指标优于国内外同cM品，可有望填补国内弱光光谱分析A研制领域的空白?/span>
该光׃?ni)A有望为生物样品高灉|度、高分L率无标检谱分析提供更有力的工具Qƈ可广泛用于光?sh)子、能源、化工、新材料和环境保护等领域?/span>
目验收?x)现?/span>
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