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Study of Microstructure of Polyoctylfluorene Thin Film and Its Effect on ELEctro-optic Properties by Using Grazing Incident X-Ray diffraction  
Study of Microstructure of Polyoctylfluorene Thin Film and Its Effect on ELEctro-optic Properties by Using Grazing Incident X-Ray diffraction
資料類型： PDF文件
關(guān)鍵詞：
資料大小： 1645K
所屬學(xué)科： 分子表征
來源： 第九屆國際高分子物理學(xué)術(shù)研討會（PP2010 6.6-6.10 濟南)
簡介：
Polyoctylfluorene(PFO)isanextensivelystudiedbluelight-emittingorganicsemiconductorthatpolymorphismhasbeenobserved.
作者： Jidong Zhang, Xi chen, He Wan, Junqiao Ding, Zhiyuan Xie, Lixiang Wang, Zhishen Mo
上傳時間： 2010-07-19 15:48:20
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